Наступило лето, многие стали ездить на дачи. Конечно, ездить приходится по-разному: кто-то – на автобусе, кто-то – на электричке; многие ездят на личных автомобилях. И вот с последними бывает случаются казусы (небольшие или даже серьезные аварии или дорожные происшествия). Мы расскажем о том, как наша работа помогла избежать крупных неприятностей одному автовладельцу, возвращавшемуся поздно вечером с дачи и попавшему в аварию с достаточно серьезными последствиями (сильно травмированный оппонент). Забегая вперед, скажем, что виноват в аварии был не наш клиент.
Итак, к нам обратился мужчина с флешкой (microSD) из видеорегистратора с просьбой о восстановлении данных. Флешка имела два скола по краям и хорошую трещину в области заднего края. Со слов заказчика, накопитель пострадал во время удара: видеорегистратор оказался частично разрушен. Однако мы сделали положительный прогноз по восстановлению данных.
Дело в том, что монолитные флеш-карты (SD, microSD и т.п.) выполнены в виде кристалла, обычно залитого либо смонтированного в пластиковый корпус – соотвественно, их размер практически всегда меньше размера корпуса. Пластик, из которого делается корпус, может быть абсолютно любым: ломким, гибким, эластичным и даже растягивающимся – поэтому трещины, сколы и даже дырки в корпусе монолитной флешки еще не означают, что данные нельзя восстановить. Кристалл внутри монолитной флешки расположен с границами в 1 – 1,5 мм от краев, поэтому сколы, трещины и любые другие повреждения этих областей носителя обычно не приводят к фатальным последствиям.
Работы по извлечению данных из microSDс трещинами и сколами начались с того, что мы попробовали чтение устройства в штатном режиме. Флешка определилась системой с нулевым объемом – то есть налицо оказалась стандартная проблема, совсем не связанная с физическими повреждениями (нарушение работы системы трансляции NAND-устройства).
Следующий этап – поиск пинаута (pinout), или, другими словами, схемыы расположения контактов. Это – самая сложная часть работ, требующая хороших знаний микроэлектроники и особенностей функционирования NAND-микросхем. На этом этапе мы полируем ту сторону накопителя, на которой находятся интерфейсные контакты, до тех пор, пока не оголится кристалл с его контактными группами и токопроводящими дорожками. Вот именно они, токопроводящие дорожки и контактные группы, и стали предметом нашего тщательного исследования. Во-первых, мы определили, какие контакты используются для питания чипа. Затем мы подали на них питание и начали поочередно искать линии данных. Не скажем, что это было легко, но у нас уже есть опыт проведения подобных работ, и поиск линий данных занял всего 6 часов. Вслед за этим начались поиски вспомогательных контактов (линии коррекции данных и т.п.). На это ушло еще 2 часа.
В итоге к окончанию рабочего дня мы имели готовую разводку микросхемы памяти. Следующее утро началось с пайки под микроскопом (чип очень маленький, паять его без увеличения невозможно). Заметим, что обычно для восстановления данных с монолитной флешки требуется распаять самое малое 12 контактов (т.е. 12 проводников) – при размене устройства в пару квадратных сантиметров и величине контактов не больше миллиметра. А бывает, что и побольше. Для устойчивого чтения надо распаять как можно больше линий питания (если каждый банк микросхемы запитывается отдельно; этого можно и не делать, питание, поступающее на общий контакт микросхемы, по идее должно быть достаточным, однако практика показывает, что это далеко не всегда так).
При наличии навыков такая пайка не вызывает сложностей, но требует времени (контакты не должны пересекаться, пайка должна быть чистой, нельзя допускать пропаивания соседних контактных групп, и т.п.). В общем, мы напаялись и подключили чип к PC-3000 forFlash. Следующий этап – правильное определение непосредственно NAND-микросхемы (обычно сводится к корректному чтению ее IDспециализированным устройством) и ее вычитывание. Тут тоже есть свои подводные камни.
Во-первых, это питание. Тут нельзя ошибиться: чип можно банально сжечь. Встречаются микросхемы со стандартным и с пониженным питанием. Определяется необходимый вольтаж осциллографом, достаточно просто. Во-вторых, это непосредственно чтение самого ID. Тут могут быть проблемы – скажем, при плохой пропайке вместо одного байта в IDпопадет другой. Если вдруг обнаружилась ошибка такого типа – необходимо проверить качество всей пайки, или наличие коротких замыканий между проводниками (часто причина именно в них – ведь достаточно малейшего воздействия на всю эту конструкцию, чтобы она деформировалась).
Наконец, само чтение данных. Вот тут возможна масса нюансов. К сожалению, производители совсем не заботятся о надежности чипов, и в разные устройства может идти различная отбраковка от «к сожалению, не получилось». Представьте себе, например, ситуацию: на флеш-карте написано 8 Гб, а с помощью NAND-ридера мы вычитали 32! Как такое возможно (кстати, этот пример – тот самый «треснутый» чип)? Да очень просто. Исходный кристалл – именно 32 Гб, но по каким-то причинам он оказался непригоден для использования всего его объема (обычно это бывает из-за слишком большого количества дефектов в микросхеме). Конечно, использовать такой чип в устройствах high-endсегмента нельзя, но не выбрасывать же? Вот и производит производитель (просим прощения за тавтологию) различные манипуляции для того, чтобы превратить бракованный кристалл в рабочий (пусть и на не слишком продолжительное время) – исключает из трансляции целые блоки данных, формирует таблицы дефектов, отключает целые банки, в которых количество ошибок зашкаливает, и т.п.
Ну а наша задача в итоге – определить, что в чипе не используется. Это бывает временами сложно, временами – просто. Стандартные признаки – отсутствие каких-либо данных в дампе (FF или 30), присутствие вставок («столбцов» данных без данных =)), большие объемы явного «мусора», и т.п. В общем, анализ, анализ и еще раз – анализ.
Забегая вперед, сообщаем: данные мы восстановили, и видеозапись аварии оказалась неповрежденной. Заказчик доволен, мы – тоже, так как подобные случаи хорошо влияют на нашу карму и дают возможность почувствовать уровень владения навыками восстановления данных в нестандартных ситуациях.